Descubra cómo redefinir el análisis de materiales avanzados de alta pureza directamente desde el sólido con Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ PLUS GD-MS. Ofrece procesamiento de muestras de alta capacidad y límites de detección enormemente bajos con la mínima cantidad de calibración y preparación de muestras, por lo que el GD-MS es ideal para las aplicaciones de análisis de metales a granel y de realización de perfiles de profundidad. 

Analiza cerámica y muchos otros polvos no conductores mediante el uso de un enfoque de electrodos secundario, que proporciona el mismo nivel de sensibilidad y calidad de los datos. Esto hace que GD-MS sea el método estándar fiable para el análisis de trazas metálicas.

Celda de descarga luminiscente de caudal rápido pulsado por µs

  • Fuente de iones de alta sensibilidad con modo descarga pulsado
  • Tasas de pulverización ampliamente ajustables para análisis rápidos a granel y aplicaciones de realización de perfiles de profundidad avanzados
  • Análisis de alúmina en polvo mediante el uso de un electrodo secundario

Espectrómetro de masas de doble enfoque

  • Relaciones señal/ruido que permiten límites de detección sub-ppmm basados en la transmisión de iones elevada combinada con bajo ruido de fondo
  • Máximo nivel de selectividad y exactitud a partir de la alta resolución de masas: un requisito previo para obtener resultados analíticos irrefutables

Sistema de detección automático de doce órdenes de magnitud

  • Determinación de ultratrazas y elementos de matriz en un solo análisis, ya que el detector totalmente automático cubre un rango dinámico lineal de 12 órdenes
  • Determinación directa de los elementos de la matriz para cuantificación del valor de la relación IBR (del inglés Ion Beam Ratio)

Productividad y facilidad de uso mediante el paquete de software

  • Total control de todos los parámetros por ordenador
  • Sintonización, análisis y evaluación de datos totalmente automatizados
  • Conectividad automática con LIMS
  • Control y diagnóstico remotos
  • Windows 7
  • El tiempo de espera entre muestras suele ser inferior a 10 minutos
  • Matriz para poder detectar ultratrazas en un solo análisis
  • Realización de perfiles de profundidad con un grosor de capa de entre cientos de micrómetros y un solo nanómetro
  • Efectos de matriz mínimos para cuantificación sencilla
Recomendado para:
 
Aeroespacial: superaleaciones de níquel, materiales compuestos, realización de perfiles de profundidad de revestimientos y capas de difusión
Microelectrónica: cobre, alúmina en polvo, objetivos de pulverización
Energías renovables: bloques de silicio, obleas, células solares
Medicina/farmacéutica/alimentación: acero inoxidable, aleaciones
 

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