
Descubra cómo redefinir el análisis de materiales avanzados de alta pureza directamente desde el sólido con Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ PLUS GD-MS. Ofrece procesamiento de muestras de alta capacidad y límites de detección enormemente bajos con la mínima cantidad de calibración y preparación de muestras, por lo que el GD-MS es ideal para las aplicaciones de análisis de metales a granel y de realización de perfiles de profundidad.
Analiza cerámica y muchos otros polvos no conductores mediante el uso de un enfoque de electrodos secundario, que proporciona el mismo nivel de sensibilidad y calidad de los datos. Esto hace que GD-MS sea el método estándar fiable para el análisis de trazas metálicas.
Celda de descarga luminiscente de caudal rápido pulsado por µs
- Fuente de iones de alta sensibilidad con modo descarga pulsado
- Tasas de pulverización ampliamente ajustables para análisis rápidos a granel y aplicaciones de realización de perfiles de profundidad avanzados
- Análisis de alúmina en polvo mediante el uso de un electrodo secundario
Espectrómetro de masas de doble enfoque
- Relaciones señal/ruido que permiten límites de detección sub-ppmm basados en la transmisión de iones elevada combinada con bajo ruido de fondo
- Máximo nivel de selectividad y exactitud a partir de la alta resolución de masas: un requisito previo para obtener resultados analíticos irrefutables
Sistema de detección automático de doce órdenes de magnitud
- Determinación de ultratrazas y elementos de matriz en un solo análisis, ya que el detector totalmente automático cubre un rango dinámico lineal de 12 órdenes
- Determinación directa de los elementos de la matriz para cuantificación del valor de la relación IBR (del inglés Ion Beam Ratio)
Productividad y facilidad de uso mediante el paquete de software
- Total control de todos los parámetros por ordenador
- Sintonización, análisis y evaluación de datos totalmente automatizados
- Conectividad automática con LIMS
- Control y diagnóstico remotos
- Windows 7
- El tiempo de espera entre muestras suele ser inferior a 10 minutos
- Matriz para poder detectar ultratrazas en un solo análisis
- Realización de perfiles de profundidad con un grosor de capa de entre cientos de micrómetros y un solo nanómetro
- Efectos de matriz mínimos para cuantificación sencilla
Recomendado para:
Aeroespacial: superaleaciones de níquel, materiales compuestos, realización de perfiles de profundidad de revestimientos y capas de difusión
Microelectrónica: cobre, alúmina en polvo, objetivos de pulverización
Energías renovables: bloques de silicio, obleas, células solares
Medicina/farmacéutica/alimentación: acero inoxidable, aleaciones