Espectrofotómetro UV-Vis Evolution Pro con lámpara de mercurio

Numero de parte: 840-340100

Para la investigación rutinaria y compleja y las aplicaciones avanzadas, incluida la conformidad actual, la serie de espectrofotómetros Thermo Scientific Evolution Pro UV-Vis combina un hardware confiable y versátil y una amplia gama de accesorios con el software Thermo Scientific Insight Pro fácil de usar y de aprender.

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Descripción

Especificaciones:

Planicidad de línea de base ±0,001 A (de 200 a 800 nm), 2,0 nm de SBW, fluido
Descripción Espectrofotómetro UV-Vis Evolution Pro con lámpara de mercurio
Tipo de detector Dos fotodiodos de silicio coinciden.
Línea de productos Evolución Pro
Ancho de banda espectral Disponibles: 0,5, 1,0, 1,5, 2,0, 4,0 nm
tipo Espectrofotómetro UV-Vis con lámpara de mercurio
Rango de onda De 190 nm a 1100 nm
Desviación <0,0005 A/h, 500 nm, 2,0 nm de SBW, 2 horas de calentamiento
Requisitos eléctricos 100/240 V, 50/60 Hz
Para utilizar con (aplicación) Académico, productos químicos, alimentos y bebidas, productos químicos medioambientales, aseguramiento y control de la calidad industrial, ciencia de los materiales, sector farmacéutico.
Vida útil de la lámpara >5 años o más si no se utiliza la señal activa
Ruido 0 A: <0,00018 A
1 A: <0,00022 A
2A: <0,00050 A
500 nm, 2,0 nm SBW, RMS
Diseño óptico Ebert modificó
Haz doble con posiciones de muestra y cubeta de referencia/accesorios
Pruebas de conformidad con la farmacopea Exactitud de longitud de onda: ±0,3 nm 190–900 nm
Repetibilidad de la longitud de onda: SD, 10 mediciones <0,1 nm
Precisión de absorbancia: < ± 0,010 A a 1 A, < ± 0,010 A a 2 A
, repetibilidad de absorbancia: ±0,0025 A a 1 A
Luz difusa: 198 nm con KCl >2 A, 220 nm con NaI >3 A, 300 nm con acetona >3 A, 340 nm con NaNO2 >3 A
Resolución: Relación pico/canal >1,8 a 1 nm de ajuste SBW
Exactitud fotométrica 1A: ±0,004 A, 2 A: ±0,004 A, 3 A: ±0,006 A, medido a 440 nm con filtros de densidad neutra trazables a NIST
Pantalla fotométrica ± 6 A
intervalo fotométrico > 4A
Repetibilidad fotométrica 1A: ± 0,0025A
Modos de exploración ordenados Absorbancia, % de transmitancia, % de reflectancia, Kubelka-Munk, Log(1/R), Log(Abs), ABS x factor, intensidad, de 1.º a 4.º derivado
Velocidad de barrido Variable, hasta 6000 nm/min.
Luz difusa KCl, 198 nm: ≤0,4 % T
NaI, 220 nm: ≤0,032 % T
NaNO2, 340 nm: <0,01 % T
Garantía Garantía de reemplazo de fuente de 3 años
Exactitud de la longitud de onda ±0,20 nm (línea de emisión de 546,07 nm Hg), ±0,30 nm, de 190 a 900 nm
Intervalo de datos de longitud de onda 10, 5, 2, 1, 0,5, 0,2, 0,1 y 0,05 nm
Repetibilidad de longitud de onda Desviación estándar de 10 mediciones <0,05 nm
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