Descripción
Especificaciones:
Planicidad de línea de base | ±0,001 A (de 200 a 800 nm), 2,0 nm de SBW, fluido |
Descripción | Espectrofotómetro UV-Vis Evolution Pro con lámpara de mercurio |
Tipo de detector | Dos fotodiodos de silicio coinciden. |
Línea de productos | Evolución Pro |
Ancho de banda espectral | Disponibles: 0,5, 1,0, 1,5, 2,0, 4,0 nm |
tipo | Espectrofotómetro UV-Vis con lámpara de mercurio |
Rango de onda | De 190 nm a 1100 nm |
Desviación | <0,0005 A/h, 500 nm, 2,0 nm de SBW, 2 horas de calentamiento |
Requisitos eléctricos | 100/240 V, 50/60 Hz |
Para utilizar con (aplicación) | Académico, productos químicos, alimentos y bebidas, productos químicos medioambientales, aseguramiento y control de la calidad industrial, ciencia de los materiales, sector farmacéutico. |
Vida útil de la lámpara | >5 años o más si no se utiliza la señal activa |
Ruido | 0 A: <0,00018 A 1 A: <0,00022 A 2A: <0,00050 A 500 nm, 2,0 nm SBW, RMS |
Diseño óptico | Ebert modificó Haz doble con posiciones de muestra y cubeta de referencia/accesorios |
Pruebas de conformidad con la farmacopea | Exactitud de longitud de onda: ±0,3 nm 190–900 nm Repetibilidad de la longitud de onda: SD, 10 mediciones <0,1 nm Precisión de absorbancia: < ± 0,010 A a 1 A, < ± 0,010 A a 2 A , repetibilidad de absorbancia: ±0,0025 A a 1 A Luz difusa: 198 nm con KCl >2 A, 220 nm con NaI >3 A, 300 nm con acetona >3 A, 340 nm con NaNO2 >3 A Resolución: Relación pico/canal >1,8 a 1 nm de ajuste SBW |
Exactitud fotométrica | 1A: ±0,004 A, 2 A: ±0,004 A, 3 A: ±0,006 A, medido a 440 nm con filtros de densidad neutra trazables a NIST |
Pantalla fotométrica | ± 6 A |
intervalo fotométrico | > 4A |
Repetibilidad fotométrica | 1A: ± 0,0025A |
Modos de exploración ordenados | Absorbancia, % de transmitancia, % de reflectancia, Kubelka-Munk, Log(1/R), Log(Abs), ABS x factor, intensidad, de 1.º a 4.º derivado |
Velocidad de barrido | Variable, hasta 6000 nm/min. |
Luz difusa | KCl, 198 nm: ≤0,4 % T NaI, 220 nm: ≤0,032 % T NaNO2, 340 nm: <0,01 % T |
Garantía | Garantía de reemplazo de fuente de 3 años |
Exactitud de la longitud de onda | ±0,20 nm (línea de emisión de 546,07 nm Hg), ±0,30 nm, de 190 a 900 nm |
Intervalo de datos de longitud de onda | 10, 5, 2, 1, 0,5, 0,2, 0,1 y 0,05 nm |
Repetibilidad de longitud de onda | Desviación estándar de 10 mediciones <0,05 nm |
Tamaño de la unidad | . |